컨텐츠 바로가기 영역
대메뉴로 바로가기
본문으로 바로가기

PDF 원문보기 스크랩하기 기술이전

[KR] 전자파흡수율 측정 시스템 및 그 방법(SAR Measurement System and Method of Electron Wave)

  • 국가/구분 KR/특허
  • 해외특허 호주 유럽 PCT
  • 출원번호/일자 10-2002-0073197 / 2002-11-22
  • 등록번호/일자 10-0600476 / 2006-07-06

발명자

우종명

출원인

충남대학교산학협력단

초록

단시간에 전자파흡수율의 측정이 가능하며 실제 전자파흡수율의 분포에 근사한 측정값을 얻을 수 있도록, 측정주파수에 대해 인체 조직의 전기적 특성에 맞춘 균일한 재질로 제조되는 모의조직과 인체의 해부학적 외형과 동일하게 제작되고 모의조직을 담는 외피를 포함하는 모의인체와, 모의인체 내부에 소정의 패턴으로 배열되어 설치되고 위치에 대한 정보 및 측정된 값을 처리하여 신호를 발생하는 IC칩과 IC칩으로부터 발생하는 신호를 송출하고 외부로부터의 주파수 신호를 수신하여 IC칩의 구동전력으로 사용하기 위한 유도전력을 발생시키며 모의조직으로 흡수되는 전자파흡수율을 측정하여 IC칩으로 전송하는 안테나로 이루어지는 다수의 측정모듈과, 측정모듈의 안테나에서 송출하는 신호를 수신하여 각 측정모듈의 위치정보와 측정값을 처리하는 측정제어기를 포함하는 전자파흡수율 측정 시스템을 제공한다.

뒤로가기 특허 정보