[KR] 벼의 수량성 증진에 관여하는 고밀도 양적형질 유전자 지도(Fine Mapping of a Yield-enhancing QTL Cluster Associated with Transgressive Variation in an Oryza sativa ⅹ O. rufipogon Cross)
- 국가/구분 KR/특허
- 해외특허
- 출원번호/일자 10-2006-0095687 / 2006-09-29
- 등록번호/일자 10-0882142 / 2009-01-30
발명자
안상낙
출원인
충남대학교산학협력단
초록
본 발명은 벼 근동질계통과 양적형질 유전자(QTL) 분석을 이용한 벼의 수량성 증진에 관여하는 양적형질 유전자의 고밀도지도에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 Oryza rufipogon을 화분친으로, 화성벼를 자방친으로 여교잡하여 얻어진 근동질계통을 대상으로 양적형질 유전자(QTL) 분석을 실시하여 작성된 벼 수량성 증진에 관여하는 양적형질 유전자좌를 포함하는 것을 특징으로 하는 벼 고밀도 양적형질 유전자지도에 관한 것이다. 본 발명에 따른 양적형질 유전자지도는 벼 수량성 증진에 관여하는 특정 양적형질 유전자좌를 확인함으로써 수량 관련 형질의 유전적 배경에 대한 직접적인 정보를 제공할 수 있는 고밀도 양적형질 유전자 지도인 것으로 평가되었다.