[KR] 전리권의 전자 밀도 분포 예측 장치 및 그 방법(Apparatus of predicting electron density distribution of ionosphere and method thereof)
- 국가/구분 KR/특허
- 해외특허
- 출원번호/일자 10-2016-0001421 / 2016-01-06
- 등록번호/일자 10-1605385 / 2016-03-16
발명자
김용하 , 김정헌 , 오승준
출원인
충남대학교산학협력단 , (주)에스이랩
초록
본 발명은 전리권의 전자 밀도 분포 예측 장치 및 그 방법을 개시한다. 즉, 본 발명은 전리권의 전자 밀도 분포 예측의 정확도를 높이기 위해서 날짜, 태양 전파 플럭스 지수(또는 F10.7 index), 지구 자기장 교란 지수(또는 Ap index), 태양 복사 플럭스(0.1nm ~ 105.0nm), 이온 온도, 2차 광이온화 과정 등을 추가로 적용하여 위도 및 경도에 따른 위치별 전자 밀도, 이온 온도, 전자 온도 등을 산출함으로써, 기존 SAMI2 모델을 이용한 전리권에서의 전자 밀도, 이온 온도, 전자 온도 등을 산출하는데 비해 보다 정밀하고 정확한 전리권에서의 전자 밀도, 이온 온도, 전자 온도 등을 산출하여 신뢰성을 높일 수 있다.